1 Treinamento: Testes Paramétricos em Semicondutores Setembro 2012 Cyro Hemsi Engenheiro de Aplicação Section 4 – Capacitance Measurement Basics.
Nano/Micro Electro-Mechanical Systems (N/MEMS) Osama O. Awadelkarim Jefferson Science Fellow and Science Advisor U. S. Department of State & Professor.
