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TÉCNICAS DE MICROSCOPIA
TTÉÉCNICAS DE CNICAS DE
CARACTERIZACARACTERIZAÇÇÃO ÃO DE DE
MATMATERIAISERIAIS
por Prof. Dr. Henrique Kahnpor Prof. Dr. Henrique Kahn
! Microscopia óptica"Estereomicroscopia
"Microscopia de luz transmitida
"Microscopia de luz refletida
! Microscopia de feixe de elétrons"MEV - Microscopia eletrônica de varredura
"MET - Microscopia eletrônica de transmissão
! Estereologia (microscopia quantitativa)
2
Evolução da microscopia
Comparação entre as técnicas de microscopia
Característica Microscopia óptica
Microscopia eletrônica de
varredura
Microscopia eletrônica de transmissão
Microscopia de campo iônico
Tensão de aceleração (kV)
− 3 a 50 50 a 1000 5 a 15
Faixa útil de aumentos
1 a 3.000 X 10 a 50.000 X 1.000 a 300000 1.000.000 X
Resolução (Å)
3.000 Å 30 Å 3Å 1 Å
Profundidade de foco com 1000 X
0,1 µm 100 µm 10 µm −
Densidade máxima de
discordâncias medida (cm/cm3)
105 (cavidades de corrosão)
106 (cavidades de corrosão)
1012 (lamina fina)
−
3
MICROSCOPIA MICROSCOPIA ÓÓPTICA PTICA --APLICAAPLICAÇÇÕESÕES
!! IdentificaIdentificaçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! QuantificaQuantificaçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! ComposiComposiçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! Formas de intercrescimento e associaFormas de intercrescimento e associaçções.ões.
ESTEREOMICROSCOPIAESTEREOMICROSCOPIA
!! Visão estVisão estééreo (3D);reo (3D);
!! Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);
!! DistinDistinçção de fases por meio de caracterão de fases por meio de caracteríísticas sticas morfolmorfolóógicas:gicas:"" cor, transparência, brilho;cor, transparência, brilho;
"" hháábito;bito;
"" clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
"" luminescência UV.luminescência UV.
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ESTEREOMICROSCESTEREOMICROSCÓÓPIOPIO
zoom 3 a12 Xzoom 3 a12 X
IluminaIluminaçção:ão:incidente;incidente;transmitidatransmitida
ESTEREOMICROSCOPIA ESTEREOMICROSCOPIA --DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES
zircão turmalina granada
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Rutilo
Zircão
6
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
!! Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
!! Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
!! DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: "" caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
"" propriedades propriedades óópticas.pticas.
CALCITA CALCITA –– CaCOCaCO33
Como explicar a formaComo explicar a formaçção de uma dupla imagem?ão de uma dupla imagem?
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MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
liga/desliga
intensidade de iluminação
oculares
objetivas
analisador/compensador
polarizador / diafragma e condensador
controle de foco
lente de Bertrand
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MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
controle de foco
diafragma
polarizadorcondensador
objetivas
analisador / compensador
platina giratória
REFRAREFRAÇÇÃO DA LUZÃO DA LUZ! Comportamento dos minerais transparentes e semi-
opacos em relação à luz •• isisóótropostropos (um índice de refração);
•• anisanisóótropostropos (dois ou três índices de refração, respectivamente, uniaxiais e biaxiais).
Indicatriz isótropa
x y
z
Indicatriz biaxialIndicatriz uniaxial
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PROPRIEDADES PROPRIEDADES ÓÓPTICAS PTICAS -- RELEVORELEVO
Relação entre o índice de refração do mineral e do meio no qual este está imerso:
A - baixo B - alto
ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral > meiondice do mineral > meio
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ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral < meiondice do mineral < meio
LUZ POLARIZADALUZ POLARIZADA
!! OscilaOscilaçção somente em uma direão somente em uma direçção.ão.
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MINERAIS ISMINERAIS ISÓÓTROPOSTROPOS
! Sistema cúbico;! Apresentam um único índice de refração;! São isótropos em relação à luz:
" sob nicóis cruzados (polarizador e analisador) estão sempre extintos (não visíveis) ao giro da platina
MINERAIS ANISMINERAIS ANISÓÓTROPOSTROPOS
! Outros sistema cristalinos que nâo o cúbico;! Apresentam dois ou três índices de refração;! São anisótropos em relação à luz:
" Pleocroismo (coloridos);" Extinção;" Elongação (hábito prismático);" Figuras de interferência.
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PLEOCROPLEOCROÍÍSMOSMO
! Minerais coloridos apresentando duas cores
distintas, cada qual concordante com um índice de
refração.
Observação em nicóis paralelos - ssóó polarizadorpolarizador
INTERFERÊNCIA DE LUZINTERFERÊNCIA DE LUZ
Atraso = (nAtraso = (n11 -- nn22) . d = birrefringência () . d = birrefringência (∆∆ ))
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Tabela de cores de interferência
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
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EXTINEXTINÇÇÃOÃO
! Reta ou paralela
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
! Simétrica
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
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EXTINEXTINÇÇÃOÃO
!! InclinadaInclinada
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
c
zz Λ c
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
!! Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
!! Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
!! DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: "" caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
"" propriedades fpropriedades fíísicas;sicas;
"" propriedades propriedades óópticaspticas;;
"" propriedades qupropriedades quíímicasmicas..
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MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
Amostra Amostra ortogonal ortogonal ààincidência da luzincidência da luz
PREPARAPREPARAÇÇÃO DA SEÃO DA SEÇÇÃOÃO! Corte da amostra;! Montagem da seção em resina;! Desbaste:
" manual em lixa d’água e/ou carborundum;" mecanizado em discos especiais;
! Polimento:" tecidos especiais com alumina ou diamante
como abrasivos;" disco de chumbo com alumina;
! Tipos de seções:" polida - luz refletida;" delgada/polida - luz transmitida e refletida.
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Corte da AmostraCorte da Amostra!! Discos Discos diamantadosdiamantados
Corte para seção delgada
DESBASTEDESBASTE
!! ManualManual !! Discos Discos especiaisespeciais
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Polimento Polimento -- LogitechLogitech
!! Tecidos Tecidos especiaisespeciais
!! Disco de Disco de chumbochumbo
Tipos de SeTipos de Seççõesões
!! PolidaPolida !! Delgada polidaDelgada polida
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DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES!! CaracterCaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas:gicas:
"" hháábito;bito;"" clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
!! Propriedades Propriedades óópticas:pticas:"" cor de reflexão;cor de reflexão;"" isotropia / anisotropia;isotropia / anisotropia;"" birreflectânciabirreflectância;;"" refletividade (relativa ou absoluta);refletividade (relativa ou absoluta);"" reflexão interna; reflexão interna;
!! Outras propriedades fOutras propriedades fíísicas:sicas:"" dureza ao risco (relativa)dureza ao risco (relativa)"" dureza dureza VickersVickers (absoluta);(absoluta);
!! PPropriedadesropriedades ququíímicasmicas
!! minminéério de Cu,Pb (Zn)rio de Cu,Pb (Zn)
calcopirita
pirita
galena
esfalerita
pirrotita
20
!! minminéério de cobre (rio de cobre (exsoluexsoluççãoão))
bornitacalcopirita
ISOTROPIA / ANISOTROPIAISOTROPIA / ANISOTROPIA
! Sob nicóis cruzados (polarizador e analisador
a cerca de 87-88º) observar se ocorre
mudança de cor ao giro da platina do
microscópio:
" não há mudança de cor ⇒⇒ iissóótropotropo;
" há mudança de cor ⇒⇒ anisanisóótropotropo. .
21
!! hematita (hematita (nicnicóóisis cruzados)cruzados)
BIRREFLECTÂNCIABIRREFLECTÂNCIA
! Sob nicóis paralelos (só polarizador) observar
se ocorre mudança na cor de reflexão do
mineral ao giro da platina do microscópio:
" há mudança de cor ⇒⇒ birreflectânciabirreflectância. .
Obs.: BirreflectânciaBirreflectância corresponde a fenômeno equivalente a
dicrodicroíísmo / smo / pleocropleocroíísmosmo em microscopia de polarização
sob luz transmitida.
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molibdenita
" birreflectância
" geminação
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
! Diferenças na intensidade de luz refletida
pelos minerais sob nicóis paralelos (só
polarizador);
! Pode ser avaliada:
" qualitativamente;
" quantitativamente (célula fotoelétrica).
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MEDIDA DE REFLETIVIDADEMEDIDA DE REFLETIVIDADE
! Comparação com padrões⇒ calibracalibraççãoão;;
! Luz policromática ou monocromática;
! Medida em ar ou imersão em óleo.
REFLEXÃO INTERNAREFLEXÃO INTERNA
! Aumento elevado" ( obj >20X);
! Nicóis cruzados" (polarizador e analisador);
Fenômeno de múltiplas reflexões internas
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DUREZA AO RISCO DUREZA AO RISCO -- Escala Escala TalmageTalmage
A A -- ArgentitaArgentita;;
B B -- Galena;Galena;
C C -- Calcopirita;Calcopirita;
D D -- TetraeditaTetraedita;;
E E -- NicolitaNicolita;;
F F -- Magnetita;Magnetita;
G G -- IlmenitaIlmenita
DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
!! Medida da deformaMedida da deformaçção causada em um ão causada em um
mineral por uma pirâmide invertida de mineral por uma pirâmide invertida de
diamante,sobre a qual diamante,sobre a qual éé aplicada uma certa aplicada uma certa
carga (0,1 a 500 g) carga (0,1 a 500 g)
D.V. = D.V. = (kg / mm(kg / mm22) , onde: ) , onde:
P = peso (g)d = diâmetro médio da identação (≈ 20 medidas)
1854,4 . P1854,4 . Pdd22
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DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
Escala e marcas de identaçãoDurimet
DUREZA VICKERS DUREZA VICKERS X X
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
Microdureza Vickers (média)
RefletividadeMédia (%)
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MEVMEV –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURADE VARREDURA
MEV e EDS/WDSMEV e EDS/WDS
!! Aumentos 20 a 50.000 vezes;Aumentos 20 a 50.000 vezes;
!! Elevada profundidade de campo;Elevada profundidade de campo;
!! InteraInteraçção elão eléétrons trons -- amostra;amostra;
!! AnAnáálises qulises quíímicas pontuais (EDS / WDS).micas pontuais (EDS / WDS).
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MEVMEV# A coluna do MEV gera um
fino feixe de elétrons;# Um sistema de deflexão
controla o aumento da imagem;
# Interação entre os elétrons e a amostra;
# Detetores de elétrons coletam o sinal;
# A imagem é visualizada em um monitor simultaneamente a varredura do feixe de elétrons;
GeraGeraçção do feixe de elão do feixe de eléétronstrons
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Coluna e lentes Coluna e lentes
eletromagneletromagnééticasticas
Mecanismo de Mecanismo de
varreduravarredura
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INTERAINTERAÇÇÃO ELÃO ELÉÉTRONS AMOSTRATRONS AMOSTRA
## Fornecem informaFornecem informaçções sobre a composiões sobre a composiçção, topografia, ão, topografia, cristalografia, potencial elcristalografia, potencial eléétrico e campos magntrico e campos magnééticos locais.ticos locais.
PROFUNDIDADE DAS INTERAÇÕES GERADAS
30
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
# Compreende espalhamento elástico de elétrons cuja trajetória foi desviada em mais de 90° em relação à direção do feixe incidente. Mostram estreita relação de dependência com o número atômico e a energia dos elétrons (50 eV atévalores correspondentes a energia do feixe incidente).
# Permitem a individualização de fases através de contraste de tons de cinza em função do número atômico médio (Z) - diferenças Z > 0,2.
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
31
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
BSE Ouro primário, Salamangone, AP
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
# Compreendem os elétrons da camada de
valência perdidos que emergem através da
superfície da amostra;
# Englobam todos os elétrons de energia
inferior a 50 eV;
# Possibilitam a visualização da topografia da
amostra, com elevada profundidade de foco.
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DETETOR DE ELDETETOR DE ELÉÉTRONS TRONS SECUNDSECUNDÁÁRIOSRIOS
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
SE
diatomácea
33
CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
# O bombardeamento da amostra por um feixe de elétrons pode dar origem a emissão de fótons de comprimento de onda elevados, situados nas regiões do espectro eletromagnético referentes às radiações ultravioleta, visível e infravermelho. Este fenômeno, bem evidente em alguns minerais (fluorita, apatita, etc), é denominado de catodoluminescênciacatodoluminescência.
CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
zircão
34
RAIOS RAIOS -- XX
## O espectro de raiosO espectro de raios--X resultante da interaX resultante da interaçção ão
eleléétrons / amostra trons / amostra éé constituconstituíído por dois do por dois
componentes distintos: componentes distintos:
$$ raiosraios--X X caractercaracteríísticostico, que permite identificar e , que permite identificar e
quantificar os elementos presentes, quantificar os elementos presentes,
$$ raiosraios--X X contcontíínuonuo, respons, responsáável pelo vel pelo ““backgroundbackground”” em em
todos os ntodos os nííveis de energia.veis de energia.
LINHAS DE LINHAS DE
EMISSÃO EMISSÃO
ATÔMICAATÔMICA
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RAIOS RAIOS -- X CONTX CONTÍÍNUONUO
K
L
M
ESPECTRÔMETROS DE RAIOS ESPECTRÔMETROS DE RAIOS -- XX
#o espectrômetro de dispersão de energia
(EDS);EDS);
#espectrômetro de dispersão de comprimento
de onda (WDS).WDS).
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ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- X POR X POR DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)
#discriminação de todo o espectro de energia
através de um detetor de estado sólido de
Si(Li) ou Ge.
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- XX
EDSEDS
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Bastnaesita ParisitaCe - 31,1 26,5La - 23,3 19,9Nd - 3,35 3,80outros ETR - 1,67 1,90Sr - 1.95 1,22Y - 0,21 0,71Th - 1,36 0,72Ca - 0,91 8,11C - 5,59 6,42O - 22,3 25,7F - 8,50 7,39
Ln2O3 - 69,9 61,8CaO - 1,27 11,4
Fase Clara - Bastnaesita Fase Escura - Parisita
ETR, Barra de Itapirapuã
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- X POR X POR DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA
(WDS)(WDS)
#cristais analisadores e difração (nλ = 2 d sen θ)
são empregados para a discriminação dos
raios-X segundo o comprimento de onda da
radiação (monocromador).
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ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- XX
WDSWDS
ESPECTRÔMETRO DE RAIOSESPECTRÔMETRO DE RAIOS--X : WDSX : WDS
39
ESPECTRÔMETRO DE RAIOSESPECTRÔMETRO DE RAIOS--X : WDSX : WDS
!! Cristais analisadoresCristais analisadores
COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Espectro por WDS(escala log)
Espectro por EDS
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COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Características WDS - cristaisanalisadores
EDS - Si(Li) ou Ge
Número atômico z ≥ 4 z ≥ 4 (janela ultrafina)Intervalo espectral resolução do espectrômetro
(1 elemento por vez)todo o intervalo disponível0-20 keV (multi-elementar)
Resoluçãoespectral
dependente do cristal(≈ 5 a 10 eV)
132 a 145 eV detetor de Si111 a 115 eV detetor de Ge
limite de deteção ≈ 0,01 % ≈ 0,1%Contagem máxima 100.000 cps
para uma linhacaracterística
depende da resolução2.000 a 100.000 cps para todo o
espectro (Ge ≈ 4 X Si)diâmetro usualmínimo do feixe
≈ 200 nm (2000 Å) ≈ 5 nm (50 Å)
tempo por análise 5 a 30 minutos(depende do nº de
elementos)
1 a 3 minutos
Ca, P;Si;Fe
Fosfato de Tapira, MG
Ca, P;Fe
41
METMET –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE TRANSMISSÃODE TRANSMISSÃO
! Estudo de defeitos cristalinos:" discordâncias
" defeitos de empilhamento.
! Estudo de defeitos de empilhamento;
! Estudos de precipitados muito finos -nanométricos.
METMET
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METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Elemento Número atômico
Densidade (g/cm³)
Espessura máxima (Å)
Carbono 6 2,26 >5000 Alumínio 13 2,70 5000 Cobre 29 8,96 2000 Prata 47 10,50 1500 Ouro 79 19,30 1000
Diferença de potencial (kV) Fator de multiplicação 100 1 200 1,6 300 2,0 500 2,5
1000 3,0
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Efeito do aumento da tensão de aceleração - base 100 kV
METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
Amostras de lâminas finas do prAmostras de lâminas finas do próóprio materialprio material
• Preparação de lâminas finas de metais e ligas: • corte de lâminas de 0,8 a 1,0 mm de espessura
• polimento mecânico até 0,10-0,20 mm de espessura
• polimento eletrolítico final.
• Preparação lâminas finas de polímeros e outros materiais
orgânicos:• microtomia, onde uma navalha corta películas finas e com
espessura controlada;
• ultramicrotomia - material resfriado em nitrogênio líquido.
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METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
•• RRééplicas da superfplicas da superfíície da amostracie da amostra ("negativo" da superfície
observando-se o contraste relativo às variações de
espessura):
• de plástico: solução diluída de plástico em um solvente volátil
formando um filme;
• de carbono: este material é evaporado na superfície da amostra.
Esta técnica pode ser utilizada também para arrancar partículas de
precipitados da amostra, a chamada réplica de extração;
• de óxido: usada principalmente para ligas de alumínio, o filme de
óxido é obtido por anodização de uma superfície previamente
polida eletroliticamente.
METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM! Sólidos amorfos
contraste em scontraste em sóólidos amorfos com varialidos amorfos com variaçção de densidade ão de densidade --região B região B éé mais densa que a região Amais densa que a região A
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METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM! Sólidos cristalinos
METMET -- FIGURAS DE DIFRAFIGURAS DE DIFRAÇÇÃOÃO
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METMET -- DIFRADIFRAÇÇÃO DE ELÃO DE ELÉÉTRONSTRONS!! Ferro alfa, com as manchas ou pontos indexadosFerro alfa, com as manchas ou pontos indexados
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIAOU OU
MICROSCOPIA QUANTITATIVAMICROSCOPIA QUANTITATIVA
46
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
!! Estudo das relaEstudo das relaçções entre estruturas ou ões entre estruturas ou feifeiçções tridimensionais de uma amostra e seus ões tridimensionais de uma amostra e seus parâmetros de medida em imagens parâmetros de medida em imagens bidimensionaisbidimensionais
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA 3D3D
2D2D
SeSeçções aleatões aleatóórias de rias de esferas de diâmetro desferas de diâmetro d
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ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
! PARÂMETROS DE INTERESSE:"Dimensões de feições;
"Forma de feições;
"Proporções volumétricas;
"Associações minerais:% Grau de liberação;% Textura e orientação;
ProporProporçções volumões voluméétricas tricas --AnAnáálise modallise modal
! As proporções volumétricas são determinadas
através de medidas de áreas, linhas ou pontos a
partir de seções não orientadas, ou material
particulado previamente classificado em estreitas
faixas granulométricas.
VVvv = A= Aaa = = LLll = P= PppPrincPrincíípio da pio da EstereologiaEstereologia
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ANANÁÁLISE DE LISE DE IMAGENSIMAGENS
!! AvaliaAvaliaçção quantitativa de feião quantitativa de feiçções ões geomgeoméétricas expostas em imagens tricas expostas em imagens bidimensionaisbidimensionais
ANANÁÁLISE DE IMAGENSLISE DE IMAGENS
! Imagens digitais:
resolução (500 a 3000 pixels)
pixel
profundidade (bites por pixel)
49
SEQSEQÜÜÊNCIA DE OPERAÊNCIA DE OPERAÇÇÕESÕES
! aquisição da imagem (MO ou MEV);
! armazenamento da imagem;
! processamento de imagem;
! detecção das feições de interesse;
! processamento de imagem binária;
! medidas;
! apresentação de resultados.
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