Revista Ciencias Forenses. Año 2. Número 2

A c a d e m i a I b e r o a m e r i c a n a d e C r i m i n a l s t i c a y E s t u d i o s F o r e n s e s

100 pesos / 8 usd

Ao 2, nm. 2Segundo semestre de 2012

CHILEAplicacin de microsco-pa electrnica de doble haz, presin variabley deteccin de energa dispersiva de rayos x (esem-fib-edx ) en la inves-tigacin forenseL. Bustamante, L. Paiva,P. sez, P. soto y F. torres

Investigacin de coli-siones de vehculos mediante microscopa electrnica con detector de energa dispersiva de rayos x (esem-fib-edx )L. Bustamante, L. Paiva,P. sez, P. soto y F. torres

ESPAAExperiencia en el labora-torio de Criminalstica de la Guardia Civil en el peri-taje de escritura rabeantonio Garca Daz

Utilizacin de software libre en imagen forensemario ruiz mateos

FRANCIAPhysical-ChemistryStudy of Line CrossingsJos BaLBuena

MXICOLa homologacin de cri-terios criminalsticosesteBan enrique Pea vLez

Criminologa, Criminals-tica y Ciencia del crimenLuis roDrGuez manzanera

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INSTITUTO NACIONAL DE CIENCIAS PENALES

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DIRECTORIO DEL INSTITUTO NACIONAL

DE CIENCIAS PENALES

Rafael estRada MichelDirector General

citlali MaRRoqunSecretaria General de Extensin

MaRysol MoRn BlancoEncargada de la Direccin de Publicaciones

JUNTA DIRECTIVA DE LA ACADEMIA IBEROAMERICANA DE CRIMINALSTICA

Y ESTUDIOS FORENSES

MaRvin salas ZigaPresidente

fRedeRico galvo da silva Vicepresidente

RoBeRto MoReno dillon Vocal

felipe guijaRRo olivaRes Vocal

jos antonio loRente acosta Vocal Relaciones Internacionales

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REVISTA DE CRIMINALSTICA

Y ESTUDIOS FORENSESAo 2, nm. 2, julio-diciembre de 2012

ing. Miguel scaR aguilaR RuiZCoordinador

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Revista de Criminalstica y Estudios ForensesI N A C I P E

CIENCIA FORENSE INACIPE. Revista de Criminalstica y Estudios Forenses, ao 2, nm. 2, julio-diciembre de 2012, es una publicacin semestral editada por el Instituto Nacional de Ciencias Penales, a travs de la Direccin de Publicaciones. Calle Magisterio Nacional nm. 113, Col. Tlalpan, Del. Tlalpan, C.P. 14000, Mxico, D.F., Tel. 5487 1571; www.inacipe.gob.mx; correo electrnico: [email protected]. Editor responsable: Instituto Nacional de Ciencias Penales. Reserva de Derecho al Uso Exclusivo: nm. 04-2012-042012572500-102; ISSN: 2007-2708, ambos otorgados por el Instituto Nacional del Derecho de Autor; Licitud de Ttulo y Contenido: 15410. Expediente CCPRI/3/TC/11/19341. Impresa por Impresora y Encuaderna do ra Progreso S.A. de C.V. (iepsa), Av. San Lorenzo nm. 244, Col. Paraje San Juan, Del. Iztapalapa, C.P. 09830, Mxico, D.F. Se termin de imprimir en noviembre de 2012, con un tiraje de 1 000 ejemplares.

Las opiniones expresadas por los autores no reflejan necesariamente la postura del editor de la publicacin.

Queda estrictamente prohibida la reproduccin total o parcial de los contenidos e imgenes de la publicacin sin previa autorizacin del Instituto Nacional de Ciencias Penales.

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7CONTENIDO

chileleonaRdo BustaMante, leonaRdo paiva, pedRo seZ,paulo soto, fRancisco toRRes

Aplicacin de microscopa electrnica de doble haz, presin variable y deteccin de energa dispersiva de rayos X (esem-fib-edx) en la investigacin forense . . . . . . 9

chileleonaRdo BustaMante, leonaRdo paiva, pedRo seZ, paulo soto, fRancisco toRRes

Investigacin de colisiones de vehculos mediante microscopa electrnica con detector de energa dispersiva de rayos X (esem-fib-edx) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23

espaaantonio gaRca daZ

Experiencia en el laboratorio de Criminalstica de la Guardia Civil en el peritaje de escritura rabe . . . . . . 31

espaaMaRio RuiZ Mateos

Utilizacin de software libre en imagen forense . . . . . . . . . . . 49

fRanciajos BalBuena

Physical-Chemistry Study of Line Crossings . . . . . . . . . . . . . . 59

MxicoesteBan enRique pea vleZ

La homologacin de criterios criminalsticos . . . . . . . . . . . . . 97

Mxicoluis RodRgueZ ManZaneRa

Criminologa, Criminalstica y Ciencia del crimen . . . . . . . . . 103

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9APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ, PRESIN VARIABLE

Y DETECCIN DE ENERGA DISPERSIVA DE RAYOS X (ESEM-FIB-EDX)

EN LA INVESTIGACIN FORENSE

Leonardo Bustamante, Leonardo Paiva,Pedro Sez, Paulo Soto, Francisco Torres*

ResuMen

Los microscopios electrnicos de barrido (seM) son ampliamen-te utilizados por laboratorios forenses de pases desarrolla-dos, porque permiten revelar detalles microestructurales de una gran variedad de evidencias. Sin embargo, en tiempos recien-tes esta tecnologa ha ampliado sus aplicaciones al disponer de microscopios electrnicos de doble haz. Este tipo de tecnologa h-brida incorpora fuentes de iluminacin capaces de producir haces de diferentes clases; por un lado, un rayo primario de electrones recorre la superficie del espcimen, a la vez que un haz de iones partcula de masa mucho mayor que los electrones es deflec-tado de manera sincronizada y enfocado en el mismo plano del haz de electrones (fiB, del ingls Focused Ion Beam). En este con-texto, el presente artculo da a conocer una visin de la micros-copa electrnica de barrido como una herramienta verstil en el rea de la Criminalstica y sus reales aplicaciones en la resolucin de los delitos.

intRoduccin

La microscopa es, en trminos generales, la disciplina dedicada a la observacin de especmenes cuya morfologa y detalles son imperceptibles al ojo humano. Mediante el uso de diferentes sis-temas pticos, es posible generar una imagen aumentada de la

* Seccin de Microanlisis del Laboratorio de Criminalstica Central, Poli-ca de Investigaciones de Chile (pdi).

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PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO

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muestra o de una parte de ella, revelando caractersticas que van mucho ms all del poder de resolucin del hombre.

Su evolucin ha acompaado la historia de prcticamente to-das las reas del quehacer cientfico, determinando el desarrollo de nuevos instrumentos y accesorios destinados a realzar caracte-rsticas especficas de especmenes de acuerdo con su mbito. De esta manera, se han diseado y construido instrumentos espec-ficos para el examen de muestras biolgicas y materiales inertes, capaces de magnificar sus detalles topogrficos o seccin transver-sal e incluso caracterizar sus propiedades fsicas y qumicas.

En la actualidad, y luego de aos de desarrollo, la microscopa se conforma en lo fundamental por dos grandes vertientes: la mi-croscopa de luz, que por lo general utiliza materia del espectro visible como fuente de iluminacin, y la microscopa electrnica, que emplea un haz de electrones para iluminar la muestra y gene-rar una imagen aumentada de sta.

La microscopa electrnica es posterior a la microscopa de luz. As pues, en 1939 la empresa Siemens produjo el primer micros-copio electrnico comercial. Desde entonces, la necesidad de res-ponder a nuevos desafos, la aplicacin de nuevos conocimientos e incluso el desarrollo de la tecnologa manufacturera han permi-tido llevar la microscopa electrnica, tanto de transmisin como de barrido, a lmites que constituyen casi un desafo a las leyes de la fsica.

Hoy en da, la microscopa electrnica presenta un avance sig-nificativo, y una de las tcnicas ms empleadas en el mbito fo-rense es precisamente la microscopa electrnica de barrido.

fundaMentos geneRales de los MicRoscopioselectRnicos de BaRRido convencionales

Este tipo de microscopios Scanning Electron Microscopy (seM) utiliza un haz primario de electrones para recorrer o pincelar la superficie del espcimen y de esa manera entregar informacin respecto de sus relieves y formas. Como producto de la interaccin entre el haz primario de electrones y la muestra, se genera una serie de seales que son debidamente colectadas por detectores ubicados en el interior del instrumento, entre las cuales se puede mencionar:

Electrones secundarios (se): Son electrones de baja energa que provienen de tomos constituyentes de la propia mues-

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APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ

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tra y que son removidos de sta al momento de ser colisio-nados por el haz primario. Estos electrones son proyectados en distintas direcciones dependiendo de la ubicacin topo-grfica que presenten en la muestra, el ngulo de inciden-cia del haz de electrones y su cercana respecto del detector con que se les capta. El detector de se corresponde por lo comn a una grilla de metal cargada con un potencial posi-tivo, de manera que atrae a estos electrones hacia l. Cada uno de los electrones percibidos se convierte en una se-al elctrica que luego se amplifica y se transforma en una imagen. En el caso de este tipo de microscopa, el haz pri-mario de electrones se desplaza a travs del rea sometida observacin, lo cual hace posible componer una imagen de toda esa rea y no de slo un punto (que es lo que pasara si el haz electrnico fuera fijo).

Electronesretrodifundidos (bse): Son partculas de alta energa que corresponden a constituyentes del haz primario, que al momento de chocar contra el ncleo de los tomos que conforman la muestra rebotan y se desvan. De ello se desprende que los tomos de mayor nmero atmico sern colisionados por una cantidad superior de electrones del haz primario, mientras que aquellos que posean un nme-ro atmico menor sern colisionados con menor frecuen-cia y, por lo tanto, desviarn una menor cantidad de elec-trones. Como caracterstica, este tipo de seal es captada mediante el uso de detectores cargados con un potencial negativo; de esta manera, los electrones retrodifundidos de baja energa son rechazados, aunque los de alta energa no son afectados por ese potencial. Cada uno de los electrones percibidos se convierte en una seal elctrica que luego se amplifica y se convierte en una imagen. Mientras mayor sea la cantidad de Bse detectados, la imagen resultar ms clara; por el contrario, si la cantidad es menor, la imagen ser ms oscura. Con base en esto, se establece que las im-genes construidas mediante la deteccin de esta seal dan cuenta del contraste elemental del espcimen, puesto que son una medida cualitativa de la heterogeneidad composi-cional en trminos del nmero atmico de sus elementos constituyentes.

Rayos X caractersticos (edx): Corresponden a radiaciones provenientes de los tomos que componen la muestra, toda

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vez que sta es barrida por el haz primario de electrones. Cuando un electrn de una capa energtica interna de un tomo es expulsado de ste, puesto que es colisionado por otro electrn, electrones de capas energticas ms exter-nas saltan transitoriamente al nivel interno a cubrir la vacante. Este cambio de nivel energtico se acompaa de la liberacin de radiacin que se encuentra cuantificada y es propia de cada elemento. Es importante sealar que, conforme aumenta el Z de un elemento, ms compleja es su configuracin electrnica, habiendo diferentes tipos de radiaciones X caractersticas que, en conjunto, constituyen una familia nica para cada elemento; es como si fuera su huella digital.

De lo expuesto, se deduce que el anlisis de una muestra me-diante microscopa electrnica de barrido convencional supone la obtencin de una gran cantidad de informacin a partir de ella. Sin embargo, existe una serie de limitantes respecto del tipo de especmenes susceptibles de ser examinados, lo cual restringe las posibilidades analticas de este tipo de instrumentos. Para que un determinado objeto pueda observarse por medio de un microsco-pio de barrido convencional, debe cumplir por lo menos con los siguientes requisitos:

Conducirlaelectricidad. Estarseco,esdecir,carecerabsolutamentedehumedad. Resistirlascondicionesdealtovacoenelinteriordelins-

trumento, las cuales pueden alterar la morfologa o estruc-tura del objeto.

Pese a lo anterior, estas dificultades pueden subsanarse prepa-rando previamente las muestras, lo que significa altos costos en equipamiento, insumos, tiempo de procesamiento y, por encima de todo, la posibilidad de introducir artefactos y/o enmascarar de-talles trascendentes en el objeto de estudio.

la MicRoscopa electRnica de BaRRidoaplicada al Rea foRense

Como ya se dijo, los microscopios electrnicos de barrido permiten revelar detalles microestructurales de una gran variedad de evi-dencias. La relevancia de su aportacin queda de manifiesto en circunstancias en que las tcnicas de microscopa de luz conven-

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cional y otras metodologas instrumentales resultan insuficientes para llevar a cabo la correcta caracterizacin de un determinado es-pcimen. Esto es fundamental sobre todo en casos en que la mues-tra es nica o escasa, y cuando de su anlisis depende, por ejemplo, relacionar a un individuo con el lugar de los hechos o escena del crimen.

La Polica de Investigaciones de Chile, consciente de la tras-cendencia que generara la entrada de este tipo de tecnologa en nuestra regin, realiz a partir de 2007 consultas tcnicas desti-nadas a la adquisicin de este tipo de instrumental. No obstante, debido a que nuestro sistema de justicia pretende garantizar a todas las partes que intervienen en una investigacin la misma posibilidad de anlisis de una evidencia, la compra del micros-copio electrnico de barrido convencional resultaba inviable. Lo anterior, debido a que la mayora de las evidencias examinadas en nuestro medio no cumplen con los requisitos mnimos para su estudio mediante estos equipos sin antes ser preparadas o pro-cesadas.

No obstante, la problemtica se resolvi con la compra de ins-trumental de ltima tecnologa, nico en Sudamrica, puesto que fue configurado especficamente para su uso en el anlisis de evi-dencia forense. La eleccin del equipamiento ms adecuado se realiz a partir de tres factores fundamentales:

Capacidaddeanlisistopogrficoymicromorfolgico. Capacidaddeanlisisqumicoelementalderegionespun-

tuales de la muestra. Preservacindelaevidencia.Gracias a la introduccin de esta tecnologa en nuestra rea, ha

sido posible analizar evidencias que, de otro modo, no hubiesen revelado su valor probatorio. De esta manera, la capacidad de ob-tener la mayor cantidad de informacin relevante a partir de un anlisis no destructivo ha transformado a nuestra institucin en un factor de referencia en el rea de microanlisis forense, tanto a escala nacional como regional.

estacin de tRaBajo dual BeaMeseM-fiB-edx quanta 200i 3d

Las estaciones de trabajo de doble haz corresponden a un tipo de tecnologa hbrida que incorpora fuentes de iluminacin capaces

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de producir haces de diferente naturaleza; por una parte, un rayo primario de electrones recorre la superficie del espcimen tal como ocurre con los microscopios electrnicos de barrido convenciona-les, mientras que un haz de iones partcula de masa mucho ma-yor que los electrones es deflectado de manera sincronizada y enfocado en el mismo plano del haz de electrones (fiB).

A continuacin, se describen las principales capacidades ana-lticas de la estacin de trabajo de doble haz de la Polica de Inves-tigaciones de Chile.

la capacidad de exaMinaR especMenesen su estado natuRal

Sin la posibilidad de analizar objetos previamente preparados para su inspeccin mediante microscopa electrnica de barrido con-vencional, este instrumento permite examinar evidencias que por su naturaleza no cumplen con las condiciones mnimas necesa-rias para su observacin mediante instrumentos tradicionales. De esta manera, es posible caracterizar muestras que no conducen la electricidad, que presentan una sensibilidad morfolgica o estruc-

figuRa 1. Imgenes topogrficas de dos muestras distintas, no aptas para su anlisis mediante microscopa electrnica

de barrido convencional . A. Granos de polen con un alto contenido de agua y sensibles a las condiciones de alto vaco . B. Trozo

de tela involucrado en atentado explosivo . La muestra se encontraba hmeda y no conduca electricidad .

A B

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tural elevada a las condiciones de alto vaco y, lo que es ms im-portante, es posible analizar evidencias con un alto contenido de agua e incluso de soluciones de diversos lquidos. Esta capacidad es de gran relevancia en el mbito forense, dado que minimiza la manipulacin de especmenes relacionados con investigaciones criminales en trminos de tratamiento pre-analtico, se elimina la posibilidad de introducir artefactos en la muestra, y en el caso de las muestras escasas y nicas una vez efectuado el peritaje son devueltas en las mismas condiciones en las que fueron reci-bidas dejando la posibilidad de anlisis posteriores si otra parte interviniente en la investigacin as lo requiere.

capacidad de anlisis de quMicoeleMental no destRuctivo

El Laboratorio de Criminalstica Central de la Polica de Investiga-ciones de Chile cuenta con equipamiento instrumental de ltima tecnologa destinado a la caracterizacin qumico elemental de una gran variedad de especmenes (absorcin atmica, icp-Masa). No obstante, un requisito fundamental para procesar evidencias mediante este tipo de equipamiento consiste en la digestin de muestras mediante el uso de diversos solventes. En muchos casos esta condicin preanaltica no reviste mayores complicaciones; sin embargo, en circunstancias en que la muestra escasea o es nica, las posibilidades de estudio resultan muy limitadas. Una situacin similar ocurre cuando la regin de la evidencia que re-viste inters es pequea y se encuentra ntimamente combinada con el resto del espcimen.

La estacin de trabajo de doble haz se encuentra equipada con un detector de energa dispersiva de rayos X (edx). Este aditamen-to permite conocer la composicin qumico elemental de una re-gin amplia de la muestra o, de ser necesario, de zonas o puntos especficos en un mismo campo de observacin, aun cuando se est trabajando a elevadas magnificaciones. La realizacin de este estudio tarda apenas unos cuantos minutos, y corresponde a un anlisis en fase slida que no provoca ningn cambio ni alteracin en la muestra.

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capacidad de MicRoRReMocin y depsitode MateRiales (caRacteRiZacin de suBsupeRficie)

La observacin de un objeto a travs de un microscopio electrni-co de barrido produce en la gente una sensacin de tridimensio-nalidad. La posibilidad de ver los relieves y la forma que presenta un elemento microscpico genera la percepcin de realidad res-pecto del espcimen que se convierte en un objeto tangible. Sin embargo, esta percepcin no es ms que una sensacin, puesto que en ningn caso se revela ms informacin de lo que permite ver la propia superficie de la muestra. El empleo de una fuente de emisin de iones (fiB) representa una revolucin en este sen-tido, puesto que constituye un verdadero bistur que permite remover, con alto nivel de precisin, porciones puntuales de la muestra a fin de revelar su subsuperficie. Los iones corresponden a partculas de masa mucho mayor que los electrones, y se usan en la construccin de imgenes topogrficas de alta calidad; no obstante, es su peso lo que permite escudriar en el interior del espcimen, de modo que son utilizados fundamentalmente con este fin.

figuRa 2. A. Imagen de contraste elemental de una muestra escasa de mineral de hierro sustrada ilegalmente . Las partculas de color

blanco presentan la concentracin ms alta de hierro, adems de otros elementos que en conjunto constituan su espectro

de emisin de energa dispersiva de rayos X . B. Espectro de emisin de energa dispersiva de rayos X de las partculas de color blanco .

Al ser comparado con los espectros de las muestras de referencia se pudo establecer su procedencia .

A B

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aplicaciones de la tecnologa eseM-fiB-edxen el Rea foRense

Aun cuando esta tecnologa es relativamente nueva en nuestro pas, su introduccin ha significado la posibilidad de resolver de manera analtica interrogantes que hasta hace poco no podan abordarse por medio de ninguna otra tcnica instrumental dis-ponible en la regin. Enseguida se sealan algunas de sus aplica-ciones.

Anlisis de pinturas y revestimientos

Este tipo de examen apunta sobre todo a la caracterizacin de ca-pas de materiales ntimamente dispuestos entre s y cuyo espesor no supera unas cuantas micras. Mediante la fuente de emisin de iones, es posible remover con sumo cuidado material a la pro-fundidad requerida para exponer cada una de las capas y llevar a cabo todas las mediciones necesarias para su debido estudio, in-cluyendo grosor, caractersticas estructurales y composicin qu-

A B

figuRa 3. Anlisis de subsuperficie de un anillo supuestamente de oro con incrustaciones de rubes . La naturaleza de la evidencia impeda

la realizacin de anlisis destructivos . A. Fotografa del anillo periciado . B. Microfotografa topogrfica de la remocin de material .

Las dimensiones del orificio son de 20 m de largo por 10 m de ancho por 7 m de profundidad, suficiente para establecer que se trata de un anillo de cobre con un delgado bao de oro .

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mica de cada una de ellas. En la prctica este anlisis ha permitido identificar vehculos robados que han sido repintados, investigar accidentes de trnsito donde uno de los vehculos se ha dado a la fuga transfirindose restos de pintura al otro involucrado, e investigar estafas en grandes construcciones donde se ha desviado dinero destinado a la aplicacin de un determinado nmero de capas de pintura, entre otras.

Anlisis de superposicin de trazos

Este tipo de anlisis es til para establecer el orden cronolgico en que un trazo o impresin se aplica sobre una superficie. No obs-tante, a veces la extraordinaria profundidad de campo de este tipo de instrumentos permite dilucidar esta interrogante; con frecuen-cia es necesario remover material por medio del haz de iones en el lugar de superposicin de trazos a fin de establecer cul de ellos fue hecho antes. Cabe sealar adems que el papel soporte ms comn involucrado en estos casos no conduce la electricidad y, por lo tanto, no se puede analizar por medio de otros equipos sin tratamiento previo. Este peritaje se relaciona en especial con el examen de evidencias documentales asociadas con delitos de estafa, donde algunos documentos son adulterados con la adicin de trazos, falsificaciones de firmas o timbres.

figuRa 4. Anlisis de subsuperficie de capas de pintura en los muros de una construccin . A. Fotografa del aspecto de una porcin

del muro . B. Microfotografa de la seccin transversal de una muestra tomada del revestimiento donde es posible

apreciar cada una de las capas de pintura aplicadas .

A B

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Determinacin de residuos de disparo de armas de fuego

Esta tarea ha constituido desde siempre una gran dificultad en la investigacin criminal, debido a que es imposible contar con metodologas analticas que permitan establecer con exactitud la presencia de partculas provenientes de una serie de disparos. En la actualidad, la nica prueba de certeza disponible es la micros-copa electrnica de barrido con deteccin de energa dispersiva de rayos X. Este anlisis tiene por objeto detectar elementos me-tlicos poco abundantes en la naturaleza plomo, antimonio y bario, que forman parte de la cpsula fulminante de la mayora de los cartuchos balsticos disponibles en la actualidad. El anlisis consiste en buscar partculas esfricas de entre 2 y 15 micrones

figuRa 5. Anlisis de superposicin de trazos . A. Fotografa obtenida por medio de microscopa de luz . No es posible pronunciarse respecto

del orden de realizacin de los trazos sobre la matriz de papel . B. Imagen de contraste elemental de la misma regin del documento . C. Imagen topogrfica donde se puede distinguir el trazo de bolgrafo

sobre la impresin laser . D. Detalle de corte transversal de un anlisis similar realizado en un laboratorio de Estados Unidos .

A

C

B

D

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de dimetro (forma caracterstica de procesos que involucran al-tas temperaturas y presiones) y llevar a cabo su anlisis qumico elemental, el cual revela la presencia de estos tres elementos. Este anlisis puede realizarse a partir de muestras tomadas tanto de las manos como de otras zonas del cuerpo de una persona, o incluso de superficies inertes.

Otras aplicaciones

Los anlisis antes mencionados constituyen slo una pequea muestra del verdadero potencial analtico de este instrumento. No obstante, esta tecnologa tambien el podra aplicarse en el an-lisis de:

muescas,fracturasycorrespondenciaentremateriales tipoentomolgicoforense pelosyfibras granosdepolen carcterqumicoelementalnodestructivodejoyasymeta-

les valorados diatomeas sustanciasadheridasadiversossoportes materiales

figuRa 6. Anlisis de residuos de disparo de arma de fuego . A. Imagen de contraste elemental de un orificio de entrada de proyectil balstico, donde se aprecia un halo claro conformado

por partculas provenientes de la cpsula fulminante del cartucho (anlisis realizado en un laboratorio forense internacional) . B.

Imagen topogrfica de una partcula de disparo de arma de fuego . El anlisis qumico de energa dispersiva de rayos X confirm la

presencia de plomo, antimonio y bario .

A B

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conclusin

La investigacin criminal incluye la aplicacin de conocimientos provenientes de diversas reas de la ciencia. En este sentido, la microscopa y en especial la tecnologa eseM-fiB-edx constituyen una herramienta transversal, puesto que los profesionales del La-boratorio de Criminalstica Central se valen de sus anlisis y sus resultados para resolver interrogantes periciales, cualquiera que sea su mbito de competencia. Las posibilidades analticas de este tipo de tecnologa son amplias y, de acuerdo con nuestra experien-cia, dependen en gran medida del conocimiento que los usuarios tengan de sus capacidades y de la naturaleza de las interrogantes periciales planteadas por quienes dirigen las investigaciones fo-renses y criminales en nuestro pas.

BiBliogRafa

Brundle, C. Richard, Charles A. Evans, Jr., y Shaun Wilson, Encyclopedia of Materials Characterization, Butterworth-Heinemann, 1992.

Garrat-Reed, A.J. y D.C. Bell, Energy Dispersive X-Ray Analysis in the Electron Microscope, Bios, 2003.

Kuo, John, Electron Microscopy Methods and Protocols, Humana Press To-towa, 2007.

Zhigang, R. Li, Industrial Application of Electron Microscopy, Marcel De-kker, 2003.

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Revista Ciencias Forenses. Año 2. Número 2

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