Post on 24-Jan-2016
description
Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron MicroscopeEM 902 ( Zeiss )EM 902 ( Zeiss )
Spezifikationen:Spezifikationen:•Beschleunigungsspannung: 80 kV•Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm
Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron MicroscopeJEM-1011 ( JEOL)JEM-1011 ( JEOL)
Spezifikationen:Spezifikationen:•Beschleunigungsspannung: 40 - 100 kV•Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,2 nm - garantierte Punktauflösung: 0,4 nm
UltraHigh-Resolution UltraHigh-Resolution Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron Microscope
JEM-2200FS ( JEOL)JEM-2200FS ( JEOL)
Spezifikationen:Spezifikationen:
•Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV
•TEM Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,10 nm - garantierte Punktauflösung: 0,19 nm
•STEM Auflösung - garantierte Punktauflösung: 0, 2 nm
• Energiedispersive Röntgenanalys (EDX)
•Elektronen-Eneergieverlustspektroskopie (EELS)
• Tomographie
Ultrahochauflösendes Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop
S- 4800 S- 4800 (Hitachi)(Hitachi)Spezifikationen:Spezifikationen:
HochauflösungHochauflösung 1.0 nm / 15 kV 1.4 nm / 1 kV
EDX- SystemEDX- System:: Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse)
KryopräparationssystemKryopräparationssystem: : Gatan – Alto 2500-S
EBSD- System:EBSD- System: HKL - Channel 5 (Elektronenrückstreubeugung)
STEM ImagingSTEM Imaging
REM deutsch